TEMATYKA KONFERENCJI

1. Metrologia ogólna i metrologia w różnych obszarach zastosowań
2. Aparatura i systemy pomiarowe
3. Metrologia w systemach zapewnienia jakości
4. Pomiary makro- i mikrogeometrii powierzchni
5. Współrzędnościowa technika pomiarowa
6. Techniki pomiarowe w analizie procesów i urządzeń technologicznych